SCAN921023将一个10位宽并行LVCMOS/LVTTL数据总线转换成一个具有嵌入式时钟的高速总线LVDS串行数据流。SCAN921224接收总线LVDS串行数据流并将其转换回10位宽并行数据总线并恢复并行时钟。设备都符合IEEE 1149.1标准测试访问端口和边界扫描结构定义的边界测试逻辑的整合和测试访问端口组成的测试数据输入(TDI),测试数据(TDO),测试模式选择(TMS),测试时钟(TCK)和可选的测试复位(TRST). IEEE 1149.1特性为设计人员或测试工程师提供了访问背板或电缆互连的途径,以及验证差分信号完整性的能力,以增强他们的系统测试策略。这对设备还具有高速BIST模式,允许串行和反串行之间的互连快速验证。
SCAN921023通过背板或电缆传输数据。单差分对数据路径使PCB设计更容易。此外,减少的电缆、PCB轨迹计数和连接器尺寸极大地降低了成本。由于一个输出串行地传输时钟和数据位,它消除了时钟到数据和数据到数据的倾斜。当不使用任何一种设备时,下电引脚通过减少供电电流来节省电力。在启动Serializer之后,您可以选择激活同步模式或允许Deserializer使用同步到随机数据特性。通过使用同步模式,反序列化器将在指定的锁定时间内建立对信号的锁定。此外,嵌入式时钟确保在总线上每12位周期一次转换。这消除了由于充电电缆条件造成的传输错误。此外,您可以将SCAN921023输出引脚放入三态,以实现高阻抗状态。锁相环可以锁定20 MHz和66 MHz之间的频率。
National SEMIconductor Corporation)宣布推出具有双测试接入模式的10:1总线低电压差分信号传输(LVDS)串行化器和解串器芯片,这两款型号分别为SCAN921023和SCAN921224