SN54ABT18504和SN74ABT18504扫描测试设备与20位通用总线收发器是德州仪器SCOPE(TM)可测试IC家族的成员。该系列器件支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描，以方便复杂电路板组件的测试。扫描访问测试电路是通过4线测试访问端口(TAP)接口完成的。

在正常模式下，这些设备是20位通用总线收发器，结合了d型锁存器和d型触发器，允许数据以透明、锁存或时钟模式流动。测试电路可以由TAP激活，以对出现在设备引脚上的数据进行快照采样，或对边界测试单元进行自我测试。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPE(TM)通用总线收发器的功能运行。

每个方向的数据流由output-enable (和)， latch-enable (LEAB and LEBA)， clock-enable (和)和时钟(CLKAB和CLKBA)输入。对于A-to-B数据流，LEAB高时设备工作在透明模式下。当LEAB低时，a总线数据被锁存是高和/或CLKAB保持在一个静态的低或高逻辑水平。否则，如果LEAB值较低且， a总线数据存储在CLKAB的一个低到高的过渡上。当低，B输出活跃。当为高时，B输出处于高阻抗状态。B-to-A数据流类似于A-to-B数据流，但使用LEBA,和CLKBA输入。

在测试模式下，抑制SCOPE(TM)通用总线收发器的正常工作，使测试电路能够观察和控制设备的I/O边界。当启用时，测试电路根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。

测试数据输入(TDI)、测试数据输出(TDO)、测试模式选择(TMS)、测试时钟(TCK)四个专用测试引脚用于观察和控制测试电路的运行。此外，该测试电路还可以执行其他测试功能，如数据输入的并行签名分析和数据输出的伪随机模式生成。所有测试和扫描操作都同步到TAP界面。

通过为每个I/O引脚使用两个边界扫描单元(BSCs)，在测试模式中提供了额外的灵活性。这允许在总线(A或B)上捕获和强制独立测试数据。还包括一个PSA/COUNT指令，以简化内存和其他使用二进制计数寻址方案的电路的测试。

SN54ABT18504的特点是在-55°C到125°C的全军用温度范围内工作。SN74ABT18504的特点是工作温度为-40°C到85°C。