这种带有18位总线收发器和寄存器的扫描测试设备是德州仪器SCOPE 可测试IC家族的成员。该设备支持IEEE Std 1149.1-1990边界扫描，方便复杂电路板组件的测试。扫描访问测试电路是通过四线测试访问端口(TAP)接口完成的。

在正常模式下，该设备是一个18位总线收发器和寄存器，允许多路传输数据直接从输入总线或内部寄存器。它可以用作两个9位收发器或一个18位收发器。测试电路可以由TAP激活，以对出现在设备引脚上的数据进行快照采样，或对边界测试单元进行自检。在正常模式下激活TAP不影响SCOPE总线收发器和寄存器的功能操作。

每个方向的数据流由时钟(CLKAB和CLKBA)、选择(SAB和SBA)和输出启用(OEAB和OEBA\)输入控制。对于A-to- b数据流，A总线上的数据被记录到CLKAB从低到高的转换上的相关寄存器中。当SAB低时，选择实时A数据显示到B总线(透明模式)。当SAB高时，选择存储的A数据显示到B总线(注册模式)。当OEAB高时，B输出是活跃的。当OEAB低时，B输出处于高阻抗状态。B-to-A数据流的控制与A-to-B数据流的控制类似，但使用CLKBA、SBA和OEBA\输入。由于OEBA输入为低电平有源，所以OEBA低电平时A输出为有源，OEBA高电平时A输出为高阻抗状态。图1说明了SN74ABT18652可以执行的四个基本总线管理功能。

在测试模式下，抑制SCOPE总线收发器和寄存器的正常运行，使测试电路能够观察和控制设备的I/O边界。当启用时，测试电路可以根据IEEE Std 1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。

测试数据输入(TDI)、测试数据输出(TDO)、测试模式选择(TMS)、测试时钟(TCK)四个专用测试引脚用于观察和控制测试电路的运行。此外，测试电路还可以执行其他测试功能，如数据输入的并行签名分析和数据输出的伪随机模式生成。所有测试和扫描操作都同步到TAP界面。

通过为每个I/O引脚使用两个边界扫描单元(BSCs)，在测试模式中提供了额外的灵活性。这允许在总线(A或B)上捕获和强制独立测试数据。还包括一个PSA/COUNT指令，以简化内存和其他使用二进制计数寻址方案的电路的测试。