带有八进制总线收发器的ABT8245扫描测试设备是德州仪器SCOPE(TM)可测试集成电路家族的成员。该系列器件支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描，以方便复杂电路板组件的测试。扫描访问测试电路是通过4线测试访问端口(TAP)接口完成的。

在正常模式下，这些器件在功能上等同于'F245和'ABT245八进制总线收发器。测试电路可以由TAP激活，以对出现在设备引脚上的数据进行快照采样，或对边界测试单元进行自我测试。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPE(TM)八进制总线收发器的功能操作。

数据流由方向控制(DIR)和输出启用 输入。数据传输被允许从A总线到B总线或从B总线到A总线，这取决于DIR的逻辑级别。允许输出 输入可用于禁用该设备，以便有效地隔离总线。

在测试模式下，SCOPE(TM)总线收发器的正常工作被抑制，测试电路被允许观察和控制设备的I/O边界。当启用时，测试电路可以执行IEEE标准1149.1-1990中所述的边界扫描测试操作。

四个专用测试引脚控制测试电路的运行:测试数据输入(TDI)、测试数据输出(TDO)、测试模式选择(TMS)、测试时钟(TCK)。此外，测试电路还执行其他测试功能，如数据输入的并行签名分析(PSA)和数据输出的伪随机模式生成(PRPG)。所有测试和扫描操作都同步到TAP界面。

SN54ABT8245的特点是可以在-55°C到125°C的全军用温度范围内操作。SN74ABT8245的特点是工作温度为-40°C到85°C。