带有八进制注册总线收发器的ABT8543扫描测试设备是德州仪器SCOPE(TM)可测试集成电路家族的成员。该系列器件支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描，以方便复杂电路板组件的测试。扫描访问测试电路是通过4线测试访问端口(TAP)接口完成的。

在正常模式下，这些设备在功能上等同于'F543和'ABT543八进制注册总线收发器。测试电路可以由TAP激活，以对出现在设备引脚上的数据进行快照采样，或对边界测试单元进行自检。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPE(TM)八进制注册总线收发器的功能操作。

每个方向的数据流由锁存使能(和),芯片启动(和)，以及输出启用(和)输入。对于a到b的数据流，此时设备工作在透明模式和都是低的。当或高，A数据被锁存。当B输出激活时和都是低的。当或为高时，B输出处于高阻抗状态。B-to-A数据流控制与A-to-B数据流控制类似，但是使用，,．

在测试模式下，抑制SCOPE(TM)注册总线收发器的正常操作，使测试电路能够观察和控制设备的I/O边界。当启用时，测试电路执行IEEE标准1149.1-1990中所述的边界扫描测试操作。

四个专用测试引脚控制测试电路的运行:测试数据输入(TDI)、测试数据输出(TDO)、测试模式选择(TMS)、测试时钟(TCK)。此外，测试电路还执行其他测试功能，如数据输入的并行签名分析(PSA)和数据输出的伪随机模式生成(PRPG)。所有测试和扫描操作都同步到TAP界面。

SN54ABT8543的特点是可以在-55°C到125°C的全军用温度范围内操作。SN74ABT8543的特点是工作温度为-40°C到85°C。