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SN74ABT8652

具有八路总线收发器和寄存器的扫描测试设备

SN74ABT8652产品信息:

带有八进制总线收发器和寄存器的ABT8652扫描测试设备是德州仪器SCOPE(TM)可测试集成电路家族的成员。该系列器件支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描,以方便复杂电路板组件的测试。扫描访问测试电路是通过4线测试访问端口(TAP)接口完成的。

在正常模式下,这些设备在功能上等同于'F652和'ABT652八进制总线收发器和寄存器。测试电路可以由TAP激活,以对出现在设备引脚上的数据进行快照采样,或对边界测试单元进行自我测试。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPE(TM)八进制总线收发器和寄存器的功能操作。

每个方向的数据流由时钟(CLKAB和CLKBA)、选择(SAB和SBA)和使能输出(OEAB和)输入。对于A-to- b数据流,A总线上的数据被记录到CLKAB从低到高的转换上的相关寄存器中。当SAB低时,选择实时A数据显示到B总线(透明模式)。当SAB高时,选择存储的A数据显示到B总线(注册模式)。当OEAB高时,B输出是活跃的。当OEAB低时,B输出处于高阻抗状态。B-to-A数据流的控制与A-to-B数据流的控制类似,但使用CLKBA、SBA和输入。自输入有功低时,A输出有功是低阻抗,什么时候处于高阻抗状态是很高的。图1显示了ABT8652可以执行的四个基本总线管理功能。

在测试模式下,SCOPE(TM)总线收发器和寄存器的正常操作被抑制,测试电路能够观察和控制设备的I/O边界。当启用时,测试电路执行IEEE标准1149.1-1990中所述的边界扫描测试操作。

四个专用测试引脚控制测试电路的运行:测试数据输入(TDI)、测试数据输出(TDO)、测试模式选择(TMS)、测试时钟(TCK)。此外,测试电路还执行其他测试功能,如数据输入的并行签名分析(PSA)和数据输出的伪随机模式生成(PRPG)。所有测试和扫描操作都同步到TAP界面。

SN54ABT8652的特点是可以在-55°C到125°C的全军用温度范围内操作。SN74ABT8652的特点是工作温度为-40°C到85°C。

SN74ABT8652数据手册:

SN74ABT8652引脚功能、电路图:

SN74ABT8652

【用 途】 【性能 参数】【互换 兼容】

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