ABTH18652A和ABTH182652A扫描测试设备具有18位总线收发器和寄存器，是德州仪器SCOPE(TM)可测试集成电路家族的成员。该系列器件支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描，以方便复杂电路板组件的测试。扫描访问测试电路是通过4线测试访问端口(TAP)接口完成的。

在正常模式下，这些设备是18位总线收发器和寄存器，允许从输入总线或内部寄存器多路传输数据。它们可以用作两个9位收发器或一个18位收发器。测试电路可以由TAP激活，以对出现在设备引脚上的数据进行快照采样，或对边界测试单元进行自我测试。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPE(TM)总线收发器和寄存器的功能运行。

每个方向的数据流由时钟(CLKAB和CLKBA)、选择(SAB和SBA)和使能输出(OEAB和)输入。对于A-to- b数据流，A总线上的数据被记录到CLKAB从低到高的转换上的相关寄存器中。当SAB低时，选择实时A数据显示到B总线(透明模式)。当SAB高时，选择存储的A数据显示到B总线(注册模式)。当OEAB高时，B输出是活跃的。当OEAB低时，B输出处于高阻抗状态。B-to-A数据流的控制与A-to-B数据流的控制类似，但是使用CLKBA、SBA和输入。自输入为低电平，此时A输出为有电平是低阻抗，什么时候处于高阻抗状态是很高的。图1说明了'ABTH18652A和'ABTH182652A执行的四个基本总线管理功能。

在测试模式下，SCOPE(TM)总线收发器和寄存器的正常操作被抑制，测试电路能够观察和控制设备的I/O边界。当启用时，测试电路根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。

四个专用测试引脚观察和控制测试电路的运行:测试数据输入(TDI)，测试数据输出(TDO)，测试模式选择(TMS)，测试时钟(TCK)。此外，测试电路还执行其他测试功能，如数据输入的并行签名分析(PSA)和数据输出的伪随机模式生成(PRPG)。所有测试和扫描操作都同步到TAP界面。

通过采用单边界扫描单元(BSC)的I/O引脚结构，提高了扫描效率。该体系结构的实现方式是捕获最相关的测试数据。还包括一个PSA/COUNT指令，以简化内存和其他电路的测试，其中二进制计数寻址方案是有用的。

有源总线保持电路将未使用的或浮动的数据输入保持在有效的逻辑水平上。

ABTH182652A的b端口输出，其设计的源或sink高达12毫安，包括25-串联电阻减少过冲和欠冲。

SN54ABTH18652A和SN54ABTH182652A的特点是可以在-55°C到125°C的全军用温度范围内工作。SN74ABTH18652A和SN74ABTH182652A的特性是从-40°C到85°C的工作。