带有18位通用总线收发器的ABTH18502A和ABTH182502A扫描测试设备是德州仪器SCOPE可测试集成电路家族的成员。该系列器件支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描，以方便复杂电路板组件的测试。扫描访问测试电路是通过4线测试访问端口(TAP)接口完成的。

在正常模式下，这些设备是18位通用总线收发器，结合了d型锁存器和d型触发器，允许数据以透明、锁存或时钟模式流动。它们可以用作两个9位收发器或一个18位收发器。测试电路可以由TAP激活，以对出现在设备引脚上的数据进行快照采样，或对边界测试单元进行自我测试。在正常模式下激活TAP不影响SCOPE通用总线收发器的功能运行。

每个方向的数据流由output-enable (和)、锁存使能(LEAB和LEBA)和时钟(CLKAB和CLKBA)输入。对于A-to-B数据流，LEAB高时设备工作在透明模式下。当LEAB低时，a总线数据被锁存，而CLKAB保持在一个静态的低或高逻辑水平。否则，如果LEAB是低的，则a总线数据存储在CLKAB的一个低到高的过渡上。当低，B输出活跃。当为高时，B输出处于高阻抗状态。B-to-A数据流类似于A-to-B数据流，但使用、LEBA和CLKBA输入。

在测试模式下，抑制SCOPE通用总线收发器的正常工作，使测试电路能够观察和控制设备的I/O边界。当启用时，测试电路根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。

四个专用测试引脚观察和控制测试电路的运行:测试数据输入(TDI)，测试数据输出(TDO)，测试模式选择(TMS)，测试时钟(TCK)。此外，测试电路还执行其他测试功能，如数据输入的并行签名分析(PSA)和数据输出的伪随机模式生成(PRPG)。所有测试和扫描操作都同步到TAP界面。

通过采用单边界扫描单元(BSC)的I/O引脚结构，提高了扫描效率。该体系结构的实现方式是捕获最相关的测试数据。还包括一个PSA/COUNT指令，以简化内存和其他电路的测试，其中二进制计数寻址方案是有用的。

有源总线保持电路将未使用的或浮动的数据输入保持在有效的逻辑水平上。

ABTH182502A的b端口输出，其设计的源或sink高达12 mA，包括25-串联电阻减少过冲和欠冲。

SN54ABTH18502A和SN54ABTH182502A的特点是可以在-55°C到125°C的全军用温度范围内工作。SN74ABTH18502A和SN74ABTH182502A的特点是工作温度为-40°C到85°C。

a到b数据流显示。B-to-A数据流类似，但使用OEBA\、LEBA和CLKBA。

在指定的稳态输入条件建立之前的输出水平