带有18位通用总线收发器的LVT18512和LVT182512扫描测试设备是德州仪器SCOPE(TM)可测试集成电路家族的成员。该系列器件支持IEEE Std 1149.1-1990边界扫描，以方便复杂电路板组件的测试。扫描访问测试电路是通过4线测试访问端口(TAP)接口完成的。

此外，这些设备是专为低电压(3.3 V) V(CC)操作而设计的，但具有为5 V系统环境提供TTL接口的能力。

在正常模式下，这些设备是18位通用总线收发器，结合了d型锁存器和d型触发器，允许数据以透明、锁存或时钟模式流动。它们可以用作两个9位收发器或一个18位收发器。测试电路可以由TAP激活，以对出现在设备引脚上的数据进行快照采样，或对边界测试单元进行自我测试。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPE(TM)通用总线收发器的功能运行。

每个方向上的数据流由输出允许(OEAB\和OEBA\)、锁存允许(LEAB和LEBA)和时钟(CLKAB和CLKBA)输入控制。对于A-to-B数据流，当LEAB高时，设备运行在透明模式下。当LEAB低时，A数据被锁存，而CLKAB保持在一个静态的低或高逻辑水平。否则，如果LEAB是低的，A数据存储在CLKAB的一个低到高的转换上。当OEAB\低时，B输出为活动状态。当OEAB\高时，B输出处于高阻抗状态。B-to-A数据流类似于A-to-B数据流，但是使用OEBA\、LEBA和CLKBA输入。

在测试模式下，抑制SCOPE(TM)通用总线收发器的正常工作，使测试电路能够观察和控制设备的I/O边界。当启用时，测试电路根据IEEE Std 1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。

测试数据输入(TDI)、测试数据输出(TDO)、测试模式选择(TMS)、测试时钟(TCK)四个专用测试引脚用于观察和控制测试电路的运行。此外，测试电路还执行其他测试功能，如数据输入的并行签名分析(PSA)和数据输出的伪随机模式生成(PRPG)。所有测试和扫描操作都同步到TAP界面。

LVT182512的b端口输出，其设计的源或sink高达12ma，包括等效的25系列电阻，以减少过冲和欠冲。

SN54LVT18512和SN54LVT182512的特点是可以在-55°C到125°C的全军用温度范围内工作。SN74LVT18512和SN74LVT182512的特点是工作温度为-40°C到85°C。