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SN74LVTH18512和SN74LVTH182512扫描测试器件具有18位通用总线收发器，是德州仪器SCOPE 可测试集成电路家族的成员。该系列器件支持IEEE Std 1149.1-1990边界扫描，以方便复杂电路板组件的测试。扫描访问测试电路是通过4线测试访问端口(TAP)接口完成的。
此外，这些设备是专为低电压(3.3 V) V(CC)操作而设计的，但具有为5 V系统环境提供TTL接口的能力。
在正常模式下，这些设备是18位通用总线收发器，结合了d型锁存器和d型触发器，允许数据以透明、锁存或时钟模式流动。它们可以用作两个9位收发器或一个18位收发器。测试电路可以由TAP激活，以对出现在设备引脚上的数据进行快照采样，或对边界测试单元进行自我测试。在正常模式下激活TAP并不影响SCOPE 通用总线收发器的功能操作。
每个方向上的数据流由输出允许(OEAB\和OEBA\)、锁存允许(LEAB和LEBA)和时钟(CLKAB和CLKBA)输入控制。对于A-to-B数据流，当LEAB高时，设备运行在透明模式下。当LEAB低时，A数据被锁存，而CLKAB保持在一个静态的低或高逻辑水平。否则，如果LEAB是低的，A数据存储在CLKAB的一个低到高的转换上。当OEAB\低时，B输出为活动状态。当OEAB\高时，B输出处于高阻抗状态。B-to-A数据流类似于A-to-B数据流，但是使用OEBA\、LEBA和CLKBA输入。
在测试模式下，SCOPE 通用总线收发器的正常操作被抑制，测试电路能够观察和控制设备的I/O边界。当启用时，测试电路根据IEEE Std 1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。
测试数据输入(TDI)、测试数据输出(TDO)、测试模式选择(TMS)、测试时钟(TCK)四个专用测试引脚用于观察和控制测试电路的运行。此外，测试电路还执行其他测试功能，如数据输入的并行签名分析(PSA)和数据输出的伪随机模式生成(PRPG)。所有测试和扫描操作都同步到TAP界面。
有源总线保持电路提供保持未使用或浮动的数据输入在一个有效的逻辑水平。
SN74LVTH182512的b端口输出，设计为源或sink高达12 mA，包括等效的25-串联电阻减少过冲和欠冲。
【用 途】 【性能 参数】【互换 兼容】
代 表 公 司 日本松下电器公司 元件种类或用途集成电路 典 型 型 号 公 司 简 介
HP3906F、3977A、4092A、EP-A、FAX-3 2． HP92298A、EP-E 3． HP92274A、3903F、EP-P、EP-V 4．HP92295A、EP-S 本文引用自www.jb51.net华强电子网5． HP4096A、4127A/X 6． HP7115A/X 7．
在魅族MX4 Pro发布会上，EP-21HD作为官方搭配也同步登场。作为EP-21的升级，EP-21HD延续了上一代的纯白外形设计，阻抗达到了可怕的128Ω，还使用了全新的振膜。作为一款129元的手机佩塞，EP-21HD来势汹汹。 在外形设计上，EP-21HD其实就是EP-21改色版，仅仅在腔体表面从灰色改为白色。
【用 途】 【性能 参数】【互换 兼容】
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这种现象多是在同一EP盒使用了多瓶墨粉后产生的。其原因一是由于感光鼓经过长期使用后电性能下降，另外一个原因是由于EP盒内的废粉收集腔已满，而无法再装入造成的。这时应拆开EP盒，清除掉废粉收集腔中的废粉，然后装好EP盒，再打印若干张后，可应急恢复正常。此法需要一定的技巧，否则会不慎将盒内的墨粉倒出，或EP盒拆开后不能复原。
