LVTH18646A和LVTH182646A扫描测试设备具有18位总线收发器和寄存器，是德州仪器(TI) SCOPE可测试集成电路家族的成员。该系列器件支持IEEE Std 1149.1-1990边界扫描，以方便复杂电路板组件的测试。扫描访问测试电路是通过4线测试访问端口(TAP)接口完成的。

此外，这些设备是专为低电压(3.3 V) V(CC)操作而设计的，但具有为5 V系统环境提供TTL接口的能力。

在正常模式下，这些设备是18位总线收发器和寄存器，允许从输入总线或内部寄存器多路传输数据。它们可以用作两个9位收发器或一个18位收发器。测试电路可以由TAP激活，以对出现在设备引脚上的数据进行快照采样，或对边界测试单元进行自我测试。在正常模式下激活TAP不影响SCOPE总线收发器和寄存器的功能操作。

收发器功能由输出使能(OE\)和方向(DIR)输入控制。当OE\低时，收发器工作，DIR高时收发器工作在A-to-B方向，DIR低时收发器工作在B-to-A方向。当OE高时，A和B输出都处于高阻抗状态，有效隔离了两条母线。

数据流由时钟(CLKAB和CLKBA)和选择(SAB和SBA)输入控制。A总线上的数据被记录到CLKAB从低到高的转换上的相关寄存器中。当SAB低时，选择实时A数据显示到B总线(透明模式)。当SAB高时，选择存储的A数据显示到B总线(注册模式)。CLKBA和SBA输入的功能分别反映了CLKAB和SAB的功能。图1显示了LVTH18646A和LVTH182646A可以实现的四个基本总线管理功能。

在测试模式下，抑制SCOPE总线收发器和寄存器的正常运行，使测试电路能够观察和控制设备的I/O边界。当启用时，测试电路根据IEEE Std 1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。

测试数据输入(TDI)、测试数据输出(TDO)、测试模式选择(TMS)、测试时钟(TCK)四个专用测试引脚用于观察和控制测试电路的运行。此外，测试电路还执行其他测试功能，如数据输入的并行签名分析(PSA)和数据输出的伪随机模式生成(PRPG)。所有测试和扫描操作都同步到TAP界面。

有源总线保持电路提供保持未使用或浮动的数据输入在一个有效的逻辑水平。

LVTH182646A的b端口输出，其设计的源或sink高达12ma，包括等效的25系列电阻，以减少过冲和欠冲。

SN54LVT18646和SN54LVTH182646A的特点是可以在-55°C到125°C的全军用温度范围内工作。SN74LVTH18646A和SN74LVTH182646A的特点是工作温度为-40°C到85°C。