LVTH18514和LVTH182514扫描测试设备与20位通用总线收发器是TI SCOPE可测试集成电路家族的成员。该系列器件支持IEEE Std 1149.1-1990边界扫描，以方便复杂电路板组件的测试。扫描访问测试电路是通过4线测试访问端口(TAP)接口完成的。

此外，这些设备是专为低电压(3.3 V) V(CC)操作而设计的，但具有为5 V系统环境提供TTL接口的能力。

在正常模式下，这些设备是20位通用总线收发器，结合了d型锁存器和d型触发器，允许数据以透明、锁存或时钟模式流动。测试电路可以由TAP激活，以对出现在设备引脚上的数据进行快照采样，或对边界测试单元进行自检。在正常模式下激活TAP不影响SCOPE通用总线收发器的功能运行。

每个方向的数据流由输出使能(OEAB\和OEBA\)、锁存使能(LEAB和LEBA)、时钟使能(CLKENAB\和CLKENBA)和时钟(CLKAB和CLKBA)输入控制。对于A-to-B数据流，LEAB高时设备工作在透明模式下。当LEAB是低的，A数据被锁存，而CLKENAB\是高的和/或CLKAB保持在一个静态的低或高逻辑水平。否则，如果LEAB低且CLKENAB\低，则A数据存储在CLKAB从低到高的转换上。当OEAB\低时，B输出为活动状态。当OEAB\高时，B输出处于高阻抗状态。B-to-A数据流类似于A-to-B数据流，但是使用OEBA、LEBA、CLKENBA和CLKBA输入。

在测试模式下，抑制SCOPE通用总线收发器的正常工作，使测试电路能够观察和控制设备的I/O边界。当启用时，测试电路根据IEEE Std 1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。

测试数据输入(TDI)、测试数据输出(TDO)、测试模式选择(TMS)、测试时钟(TCK)四个专用测试引脚用于观察和控制测试电路的运行。此外，测试电路还执行其他测试功能，如数据输入的并行签名分析(PSA)和数据输出的伪随机模式生成(PRPG)。所有测试和扫描操作都同步到TAP界面。

有源总线保持电路提供保持未使用或浮动的数据输入在一个有效的逻辑水平。

LVTH182514的b端口输出，其设计的源或sink高达12ma，包括等效的25-串联电阻减少过冲和欠冲。

SN54LVTH18514和SN54LVTH182514的特点是在-55°C到125°C的全军用温度范围内工作。SN74LVTH18514和SN74LVTH182514的特点是工作温度为-40°C到85°C。

（) a到b数据流显示。B-to-A数据流类似，但使用OEBA\、LEBA、CLKENBA\和CLKBA。

（)在指定的稳态输入条件建立之前的输出水平