Micro-Epsilon Group光学千分尺和激光千分尺：ThicknessCONTROL MTS 8202.T的参数_特性_规格及数据手册

ThicknessCONTROL MTS 8202.T 光学千分尺和激光千分尺 Micro-Epsilon Group

ThicknessCONTROL MTS 8202.T 光学千分尺和激光千分尺描述

微Epsilon为金属工业提供创新的测量和检测系统。最新技术用于厚度、剖面和表面测量。性能和质量，以及产品和服务的可靠性，使微Epsilon成为金属工业光学厚度测量检测系统的领先供应商之一。世界上13个国家在铣削生产线和加工生产线的大量成功安装说明了这一点。厚度测量系统作为一个C形框架，带有点激光厚度控制MTS 8202.T，MTS 8202.T配有激光三角测量传感器，确保材料独立测量。在生产过程中，两个传感器的激光束均采用专门开发的光电工具进行优化调整，以提供最高的精度。该系统测量速度快，是监测高动态过程的理想系统。自动在线校准可确保测量不受温度影响

ThicknessCONTROL MTS 8202.T 光学千分尺和激光千分尺特性

ThicknessCONTROL MTS 8202.T 光学千分尺和激光千分尺技术参数

规格项	参数值
性能
测量能力	SPC Capability
特性
量程	0.7874 inch (20 mm)
测量技术	Optical; Non-contact
测量刻度 / 单位	English; Metric
物理
镜头类型	Single-piece head
安装/加载选项	Automatic or Inline
更多技术信息
激光 / 可见度类型	Laser Class II
更多规格
产品类别	Optical Micrometers and Laser Micrometers
精度	4 µm