ProASIC3E Flash Family FPGAs
ProASIC3E闪存系列FPGA
生命周期 | Active |
包装说明 | BGA, BGA896,30X30,40 |
Reach Compliance Code | unknown |
风险等级 | 5.73 |
最大时钟频率 | 350 MHz |
JESD-30 代码 | S-PBGA-B896 |
JESD-609代码 | e1 |
湿度敏感等级 | 3 |
输入次数 | 620 |
逻辑单元数量 | 75264 |
输出次数 | 620 |
端子数量 | 896 |
最高工作温度 | 70 °C |
最低工作温度 | |
封装主体材料 | PLASTIC/EPOXY |
封装代码 | BGA |
封装等效代码 | BGA896,30X30,40 |
封装形状 | SQUARE |
封装形式 | GRID ARRAY |
峰值回流温度(摄氏度) | 245 |
电源 | 1.5/3.3 V |
可编程逻辑类型 | FIELD PROGRAMMABLE GATE ARRAY |
认证状态 | Not Qualified |
子类别 | Field Programmable Gate Arrays |
表面贴装 | YES |
技术 | CMOS |
温度等级 | COMMERCIAL |
端子面层 | Tin/Silver/Copper (Sn/Ag/Cu) |
端子形式 | BALL |
端子节距 | 1 mm |
端子位置 | BOTTOM |
处于峰值回流温度下的最长时间 | 30 |
Base Number Matches | 1 |
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