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47pF, 22V, SILICON, VARIABLE CAPACITANCE DIODE, DIE-1
| 是否Rohs认证 | 符合 |
| 生命周期 | Transferred |
| 零件包装代码 | DIE |
| 包装说明 | O-LALF-W2 |
| 针数 | 1 |
| Reach Compliance Code | unknown |
| ECCN代码 | EAR99 |
| HTS代码 | 8541.10.00.80 |
| 风险等级 | 5.06 |
| 其他特性 | ULTRA-LOW LEAKAGE |
| 最小击穿电压 | 22 V |
| 外壳连接 | ISOLATED |
| 配置 | SINGLE |
| 二极管电容容差 | 5% |
| 标称二极管电容 | 47 pF |
| 二极管元件材料 | SILICON |
| 二极管类型 | VARIABLE CAPACITANCE DIODE |
| JESD-30 代码 | O-LALF-W2 |
| 元件数量 | 1 |
| 端子数量 | 2 |
| 最高工作温度 | 150 °C |
| 最低工作温度 | -65 °C |
| 封装主体材料 | GLASS |
| 封装形状 | ROUND |
| 封装形式 | LONG FORM |
| 峰值回流温度（摄氏度） | NOT SPECIFIED |
| 最大功率耗散 | 0.4 W |
| 认证状态 | Not Qualified |
| 最大反向电流 | 0.005 µA |
| 反向测试电压 | 20 V |
| 表面贴装 | NO |
| 端子形式 | WIRE |
| 端子位置 | AXIAL |
| 处于峰值回流温度下的最长时间 | NOT SPECIFIED |
| Base Number Matches | 1 |
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