ThicknessCONTROL MTS 8202.LLT 光学千分尺和激光千分尺 Micro-Epsilon Group
- 产品品牌：Micro-Epsilon Group
- 产品类别：光学千分尺和激光千分尺
- 产品型号：ThicknessCONTROL MTS 8202.LLT
详细信息
ThicknessCONTROL MTS 8202.LLT 光学千分尺和激光千分尺特性
- 创新激光线-非接触厚度测量，最多1280个离散测量点
- 用横向千分尺分辨率测量窄带边缘，结合大测量范围
- 高度动态测量- 128,000个测点/秒，即使对于结构材料，如纽扣板和检查板，也能提供高精度测量
- 识别和补偿带钢倾斜-特别适用于纵切剪切机
- 不需要合金补偿-真正的几何，材料独立的厚度测量
- 经济高效的服务生命周期管理—创新的测量方法，无需同位素或x射线，从而降低相应成本
- 线性度±5µm，测量范围40mm
- 口宽度300毫米
- 浸泡深度50mm至800mm
- 根据要求提供特殊尺寸
- 测量速率可达2khz
- 创新的激光线-非接触式厚度测量，多达1280个离散测量点
- Linearity of ±5 µm with measuring range of 40mm
- 口宽300mm
ThicknessCONTROL MTS 8202.LLT 光学千分尺和激光千分尺描述
- 微Epsilon为金属工业提供创新的测量和检测系统。最新技术用于厚度、剖面和表面测量。性能和质量，以及产品和服务的可靠性，使微Epsilon成为金属工业光学厚度测量检测系统的领先供应商之一。世界上13个国家在铣削生产线和加工生产线的大量成功安装证明了这一点，MTS 8202.LLT配备了激光三角扫描仪，这意味着测量与目标材料的表面性质无关。因此，金属表面的结垢或镜面效应被吸收。此外，与点传感器相比，该系统具有更高的精度和更大的嘴宽。自动在线校准确保测量不受温度变化的影响。测量线垂直于物料流布置，使系统能够处理横向带钢倾斜。，特殊功能：
ThicknessCONTROL MTS 8202.LLT 光学千分尺和激光千分尺技术参数
| 规格项 | 参数值 |
| 性 能 | |
| 测量能力 | SPC Capability |
| 特 性 | |
| 量程 | 11.81 inch (300 mm) |
| 测量技术 | Optical; Non-contact |
| 测量刻度 / 单位 | English; Metric |
| 物 理 | |
| 镜头类型 | Single-piece head |
| 安装/加载选项 | Automatic or Inline |
| 更多技术信息 | |
| 激光 / 可见度类型 | Laser Class II |
| 更多规格 | |
| 精度 | 40 µm |
| 产品类别 | Optical Micrometers and Laser Micrometers |
