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摘要： 来自IXYS的门驱动程序评估板，一种Littelfuse技术，分析SiC设计的系统级影响
IXYS, Littelfuse技术公司，已经开发了一种用于碳化硅mosfet和二极管的栅极驱动评估板。GDEV系统包括一个主板，可以将门驱动模块板插入其中，允许用户分析与基于sicg的设计相关的系统级影响。它提供了在定义良好和优化的测试条件下比较不同门驱动器半桥配置方案的性能的能力。此外，GDEV提供连续工作条件下的栅极驱动电路测试，以评估栅极驱动的热性能和电磁干扰抗扰度。
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