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F2923低插入损耗SPDT吸收型RF开关

来源:HQBUY 发布时间:2021-03-29

摘要: 集成器件技术(IDT)提供其恒阻抗K|z| SP2T RF开关



IDT推出了业界首个单极双掷(SPDT) RF开关,其K|(Z)|恒阻抗技术正在申请专利。IDT F2923是一种低插入损耗SPDT吸收射频开关,设计用于多种射频应用,包括基站(2G, 3G, 4G和5G),无线回程,有线电视,和便携式手持设备。


K|(Z)|特性在RF端口之间切换时控制所有端口阻抗,保留回波损耗。没有K值|(Z)|的标准开关在切换射频路径时产生一个大的驻波比(VSWR)瞬态,因为开关的阻抗在开关事件中没有得到很好的控制。VSWR暂态会降低系统性能和可靠性。K|(Z)|在不同的动态或“热切换”场景中的好处包括:

  • 在两个射频元件(如PAs、驱动器和LNAs)之间切换时,避免损坏和引起瞬态错误
  • 当切换配电网络的路径,如3db耦合器或4路分路器时,尽量减少未切换路径上的瞬态振幅和相位误差

特性和好处
  • 极低的插入损耗:0.48 dB @ 2 GHz
  • 高输入IP3: 66 dB @ 2 GHz
  • RF1 / RF2到RF_Com隔离:74 dB @ 2 GHz
  • 1或2引脚设备控制选项
  • 低直流电流:127μ使用3.3 V逻辑
  • 支持1.8 V和3.3 V控制逻辑
  • 扩展温度:-55°C至+105°C
  • 4毫米x 4毫米,20针TQFN封装
  • 工业标准的足迹和针与F2912兼容
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