摘要: Broadcom的SiPM适用于低电平脉冲光源的检测和光子计数应用
Broadcom的AFBR-S4N44C013是一种单SiPM,用于对单光子和脉冲光源进行超灵敏和快速测量。
有效面积为3.72毫米x3.72毫米。单片的高封装密度是通过硅通(TSV)技术实现的。平铺多个AFBR-S4N44C013 SiPMs可以覆盖更大的区域,几乎没有任何边缘损失。保护层由一层玻璃制成,玻璃的透明度低至紫外线波长,在可见光谱中产生广泛的响应,对光谱中的蓝色和近紫外线区域具有很高的灵敏度。这种SiPM非常适合于低强度脉冲光源的检测,特别是来自非常常见的有机塑料材料和无机闪烁体材料的切伦科夫或闪烁光,包括LSO, LYSO, BGO, Nal, Csl, BaF和LaBr。
本产品用于单光子的超灵敏精密测量,具有高PDE,四面可平铺。单片的高封装密度是通过硅通(TSV)技术实现的。平铺多个AFBR-S4N44C013阵列可以覆盖更大的区域,几乎没有边缘损耗。
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