摘要: NXP Semiconductors TJA1145A评估板设计用于方便在各种微控制器IO接口环境中测试和评估TJA1145A产品特性。此评估板与Arduino UNO兼容。TJA1145A评估板在顶部的标题行和底部的标题行提供MCU信号。...
NXP Semiconductors TJA1145A评估板设计用于方便在各种微控制器IO接口环境中测试和评估TJA1145A产品特性。此评估板与Arduino UNO兼容。TJA1145A评估板在顶部的标题行和底部的标题行提供MCU信号。这些信号可以直接插入许多NXP MCU评估板。TJA1145A-EVB板设计为兼容NXP S32K1xx评估板,支持使用标准的软件开发工具和驱动程序。这个板包含CAN通信,电源,唤醒电路,以及当引脚BAT和V(CC)被供应时指示led。TJA1145A评估板提供了若干头行(2.56mm间距),用于连接MCU接口和应用信号。
设计用于测试和评估TJA1145A CAN收发器
所有MCU接口信号可通过两种方式访问:
在顶部一侧的标题行
在标题行底部的一边
兼容NXP S32K1xx评估板
支持使用标准的软件开发工具和驱动程序
标题行间距为2.56mm,用于连接MCU接口和应用信号
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