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GSI技术低延迟dram的介绍、特性、及应用

来源:HQBUY 发布时间:2022-01-06

摘要: GSI技术低延迟dram是高级数据网络应用的理想选择,具有低随机周期时间和八银行存储阵列架构。该设备具有双重数据速率传输的性能无法与普通DRAM匹配。它的类似sram的地址接口使它更容易使用,并使设备在网络任务中保持接近100%的总线利用率...


    GSI技术低延迟dram是高级数据网络应用的理想选择,具有低随机周期时间和八银行存储阵列架构。该设备具有双重数据速率传输的性能无法与普通DRAM匹配。它的类似sram的地址接口使它更容易使用,并使设备在网络任务中保持接近100%的总线利用率。


    GSI的LLDRAM设备是理想的10GbE, 40GbE和100GbE包缓冲和检查任务。它们是各种网络处理器单元和FPGA架构上的首选技术。


    特性

    • Pin-和功能兼容Micron RLDRAMII

    • 533MHz DDR操作(1.067Gb/s/pin数据速率)

    • 38.4Gb/s峰值带宽(在533MHz时钟频率下x36)

    • 8M x 36单位可用

    • 8家内部银行并行操作,最大带宽

    • 缩短周期时间(533MHz时15ns)

    • 地址多路复用(非多路复用地址选项可用)

    • SRAM-type接口

    • 可编程读延迟(RL),行周期时间,突发序列长度

    • 平衡读和写延迟,以优化数据总线的利用

    • 写命令的数据掩码

    • 差分输入时钟(CK, CK)

    • 差分输入数据时钟(DKx, DKx)

    • 片上DLL生成CK边缘对齐数据并输出数据时钟信号

    • 数据有效信号(QVLD)

    • 32 ms刷新(每个银行刷新8K;每32毫秒必须发出64K刷新命令)

    • 144 -球FBGA包

    • HSTL I/O(标称1.5 V或1.8 V)

    • 25欧姆-60欧姆匹配阻抗输出

    • 2.5V V(EXT), 1.8V V(DD), 1.5V或1.8V V(DDQ) I/O

    • 模内终止(ODT) R(TT)

    • 工业和工业温度

    • 商用(+0°≤T(C)≤+95°C)

    • 工业用(-40°≤T(C)≤+95°C)

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