松下PGA26ExxBA-08 X-GaN半桥评估板是为测量X-GaN功率晶体管的开关特性而设计的。这些评估板包括一个专用的X-GaN驱动器和通用隔离器。X-GaN半桥评估板可以很容易地配置成任何半桥拓扑，用于电源评估。PGA26E19BA评估板带有ON电阻值190毫欧，而PGA26E07BA评估板带有ON电阻值70毫欧。这些评估板是理想的半桥拓扑电源测试。

特性

• 100V ~ 400V(DC)最大输入电压

• 电阻:

• PGA26E07BA-SWEVB008 70欧姆

• PGA26E19BA-SWEVB008 190欧姆

• 支持使用2脉冲测试评估开关特性

• 支持连续电源测试，这取决于使用附加散热器的热设计

• 额定功率:

• PGA26E07BA-SWEVB008可达800W

• 高达400W的PGA26E19BA-SWEVB008

• 参考设计PCB布局和门驱动电路

• 高速开关和高频操作性能

• 简化了引导设计

包内容

• AN34092B单通道X-GaN栅极驱动IC

• 通用半桥隔离器

• PGA26E19BA-SWEVB008:

• 用于PGA26E19BA X-GaN功率晶体管的600V, 190毫欧

• PGA26E07BA-SWEVB008:

• 用于PGA26E07BA X - GaN功率晶体管的600V, 70毫欧

X-GaN半桥评估板方框图