摘要: 英飞龙EVALHBPARALLELGANTOBO1半桥评估板能够方便、快速地设置和测试600V CoolGaN 晶体管以及隔离栅驱动IC。通用拓扑结构可配置为boost或buck操作,具有有限的脉冲测试,或连续全功率操作。测试点可以方便地将...
英飞龙EVALHBPARALLELGANTOBO1半桥评估板能够方便、快速地设置和测试600V CoolGaN晶体管以及隔离栅驱动IC。通用拓扑结构可配置为boost或buck操作,具有有限的脉冲测试,或连续全功率操作。测试点可以方便地将信号连接到示波器,以测量并行CoolGaN晶体管和栅驱动的开关性能。英飞凌半桥评估板为用户设计功率电路来评估并行配置下的GaN功率晶体管节省了时间。
半桥电路板有一个单独的PWM输入端,用于连接一个50欧姆的脉冲或信号发生器。板电源来自一个单一的5V电源输入,它为包括隔离栅驱动电源在内的所有电源供电。高电平和低电平之间的死区时间预先设置为100ns,但可以通过微调电位器进行调节。一个外部电感连接到所提供的可插端子座连接器。输出和母线电压范围可达450V,受电容额定值限制。该半桥可连续切换28A电流,在硬开关或软开关时峰值电流为70A。工作频率可达1MHz,取决于晶体管的耗散(限制为每台带有适当散热片、热界面材料和气流的设备约13W)。
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