一些串行网络使用测试模式来测试接口中的所有电路。该网络分为本地和远程数据终端设备(DTE)和数据电路终端设备(DCE)，如图1所示。一旦网络处于测试模式，本地DTE将在驱动电路上发送信号，并期望从本地或远程DCE接收相同的信号。这些测试称为本地或远程环回。

LTC1543 / LTC1544 / LTC1344A芯片组在1998年2月的《线性技术》(Linear Technology)杂志上介绍过，采用了多协议集成的方法。利用该芯片组完成了Net1和Net2的设计工作。LTC1545通过提供测试模式功能扩展了该系列。通过将6路LTC1544替换为9路LTC1545，可选电路TM(测试模式)，RL(远程环回)和LL(本地环回)现在可以实现。

图2显示了使用LTC1543、LTC1545和LTC1344A的典型应用程序。只需将芯片引脚映射到连接器，接口端口的设计就完成了。芯片组支持V.28、V.35、V.36、RS449、EIA-530、EIA-530A或X.21协议，支持DTE或DCE模式。这里显示的是DCE模式连接到DB-25连接器。模式选择引脚M0、M1和M2用于选择接口协议，如表1所示。