史蒂夫·爱德华兹是一位经验丰富的设计工程师，他编写了几个计算器来自动执行重复性任务。这些工具正在被共享，以帮助其他设计工程师选择、指定和表征电路。我们将总结一个这样的工具，统计过程控制计算器的功能。

统计过程控制计算器

统计过程控制计算器(SPCC)是HP 50g计算器的程序，有助于预测和分析过程收率。可以输入或查找每个参数。SPCC也可以在PC上使用免费程序HPUserEdit 5.4运行，可以在www.hpcalc.org或Steve的Design Calculators页面上找到。

统计过程控制(SPC)是一种用于持续过程改进的结构化方法。SPC的最终目标是在短期内达到六西格玛质量标准，因为这些标准被假定产生的长期缺陷水平低于每百万缺陷3.4个(DPM)。这是因为假设存在1.5西格马的长期过程位移，得尔塔西格马。

SPCC可以计算长期生产收率和所有相关参数。它基于正态(有时称为“高斯”)分布曲线，该分布曲线由所有过程和测量中发现的随机变量的存在而产生。

可输入或查找以下8个参数:

1. 每百万缺陷数，DPM，以PPM为单位
   
   

1. 或者长期收益率，Yld，以%表示

2. 或者长期缺陷，Def，用%表示

2. 长期过程转移，得尔塔西格马，在Z

3. 短期标准差s，以用户单位为单位，U

4. 短期平均值，µ，用户单位，U

5. 规格下限，LSL，以用户单位为单位，U

6. 下规格限值，LSL，单位Z

7. 规格上限，USL，用户单位，U

8. 规格上限，USL，单位Z

SPCC可以找到任何参数作为其他参数的函数，这对于预测产量和寻找产生期望产量所需的条件都很有用。它还允许基于这些参数值绘制总体的概率密度。

这些参数在SPCC中显示如下:

默认情况下，SPCC使用标准SPC术语µ、LSL和USL。或者，Typ, Min和Max也可以使用，它们通常在集成电路和其他电子元件的电气规格中找到。

用户指南(作为SPCC程序包的一部分)提供了计算器的使用说明，过程产量预测和分析背后的理论和方程，最重要的是，它在电路设计和分析中使用的实际示例。实际示例将使用SPCC来预测由于其输出电流(I(OUT))变化而放大压力传感器的短期和长期生产产量。