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河洛发表逻辑/混合讯号IC测试机

来源:http://news.hqew.com/info-203141.html 发布时间:2011-10-21

摘要: 河洛HV-256 IC测试机系针对逻辑或混合讯号IC之测试需要而设计,可透过第二代通用序列汇流排(USB 2.0)和个人电脑(PC)连结,在优异的软体整合测试环境(Integrated Test Environm...

        河洛HV-256 IC测试机系针对逻辑或混合讯号IC之测试需要而设计,可透过第二代通用序列汇流排(USB 2.0)和个人电脑(PC)连结,在优异的软体整合测试环境(Integrated Test Environment, ITE)下,提供工程开发、量产测试失败分析及良率改善等功能。

        HV-256支援TTL、通用汇流排(GPIB)、RS232等通讯介面,可与坊间元件分类机(如HI-LO HL-930等)或晶圆针测机(如 TSK Prober)连结,可对高达十六个待测元件同时进行测试量产。 

        HV-256 IC测试机可进行直流(DC)、交流(AC)及功能性测试。两百五十六个测试通道可提供电压表、电压/电流检测、恒压、恒流源流出/流入、上拉/下拉电阻、主动负载、时间参数测量、并内建任意波形产生器及波形量化器等强大功能,媲美传统ATE,提供高规格性价比。机台体积精简,能因应待测IC特定需求,深具客制化之弹性。

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