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Tektronix发布Superspeed USB测试方案

来源:http://news.hqew.com/info-157017.html 发布时间:2009-07-17

摘要: Tektronix推出适用于Superspeed USB (USB 3.0)装置特性分析、除错和自动化兼容性测试的工具组,新的USB-TX选项搭配DPO/DSA70000B示波器,提供可验证USB 3.0发送器装置的单键式解决方案。该公司亦推...

     Tektronix推出适用于Superspeed USB (USB 3.0)装置特性分析、除错和自动化兼容性测试的工具组,新的USB-TX选项搭配DPO/DSA70000B示波器,提供可验证USB 3.0发送器装置的单键式解决方案。该公司亦推出USB 3.0测试治具,让工程师能够执行准确的发送器、接收器和缆线测试。
    
     USB-TX可支持标准测试以及具有信息参考性的所有测试,如展频时脉(SSC)、回转率、电压位准及其它测试项目。其它可用的解决方案仅支持特定兼容性标准,而Tektronix USB-TX却可提供完整且全面的特性分析、除错和兼容性工具组。
    
     选项USB-TX建置于TekExpress平台系统,专用于高速串行资料标准的自动化单键测试。TekExpress模块是以标准组织指定与公布的测试需求和实作方法(MOI)为基础。所有测试步骤均采自动化,使客户仅需选择想要的测试,即可获得含有通过/失败与边际分析结果的完整报告。除了全新的USB 3.0产品外,目前亦推出支持SATA和DisplayPort的自动化模块。
    
     此外,Tektronix USB3.0测试解决方案整合独一无二的插座型式测试治具,能在探测时尽可能接近硅晶,以提供最真实的代表性讯号。
    

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