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安捷伦与Anite联手推出LTE UE测试仪Agilent E6620A

来源:http://news.hqew.com/info-148764.html 发布时间:2008-11-28

摘要: 安捷伦(Agilent)科技公司和无线行业测试技术厂商Anite股份有限公司日前宣布,LTE UE协议测试仪Agilent E6620A已经上市。该测试仪是在新型Agilent E6620无线通讯测试仪的平台上开发成功的,是计划开发的3GPP...

     安捷伦(Agilent)科技公司和无线行业测试技术厂商Anite股份有限公司日前宣布,LTE UE协议测试仪Agilent E6620A已经上市。该测试仪是在新型Agilent E6620无线通讯测试仪的平台上开发成功的,是计划开发的3GPP LTE研发测试产品中的第一款产品。
    
     2007 年 11 月,安捷伦与Anite合作推出了包含开发工具套件的Anite SAT LTE协议测试仪。它是市场上第一款SAT LTE协议测试仪,具有极其广泛的功能,是工程师进行LTE手机早期协议设计的理想工具。它具有一套在综合开发环境中运行的开发测试工具,内含简单易用的图形用户界面(GUI)、开发人员API和有利于快速编制1-3层测试应用程序的开发辅助程序。该开发工具套件可提供一个直观、强大的测试环境,可加速产品上市时间,提高产品质量,并且还能够有效地节约投资。
    
     新型Agilent E6620A测试仪提供了一个功能强大的通用硬件平台和符合3GPP标准的协议栈,支持用户构建覆盖整个LTE UE研发周期的可扩展解决方案。作为一款先进的LTE综合测试仪,它可通过射频或数字基带提供实时、系统级的L1/L2/L3上行链路和下行链路网络仿真。它还具有完全的射频测量功能,能够支持MIMO和协议一致性测试。
    

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