安捷伦(Agilent)推出两款内插器解决方案--W4633A BGA与W3636A BGA，可结合使用快速的逻辑分析仪，对DDR4和DDR3 DRAM设计进行测试。这两套内插器解决方案能快速而准确地撷取位元位址、指令和资料讯号，以进行设计除错并验证量测。

  台湾安捷伦科技电子量测事业群总经理张志铭表示，客户需要准确度更高的探量工具，以增强其新一代记忆体系统的资料速率，并且降低功耗。藉由搭配使用DDR4 BGA内插器、E5849A探棒和U4154A逻辑分析仪系统，工程师可测试资料速率远超出目前2400Mb/s速率的DDR4记忆体。

  新款W4633A BGA内插器结合E5849A探棒，可探量资料速率更高的DDR4×4或×8 DRAM设计;而利用W3636A BGA内插器，工程师可针对2G以上容量的非堆叠DDR3×16 DRAM进行探量。

  新的内插器解决方案可以直接存取DDR4×4或×8 DRAM BGA焊球，如此可确保低负载，同时减少对嵌入式系统设计讯号完整性的影响。该探棒适用于现有设计，可省下规画的时间并避免重新设计。此外，两套新的内插器解决方案可与高速的U4154A逻辑分析仪系统搭配使用，后者提供高达4Gb/s的状态速度，和高达2.5GHz的触发序列速度。