QED公司引领拼接测量技术革命

来源：http://news.hqew.com/info-260951.html 发布时间：2012-08-08

摘要： QED公司采用拼接方法测量非球面的ASI设备是拼接测量技术的一次革命。现在，这个团队又将带来全新的ASI(Q)，它将使得您测量和制造复杂光学元件的能力得到进一步提升。...

       QED公司采用拼接方法测量非球面的ASI设备是拼接测量技术的一次革命。现在，这个团队又将带来全新的ASI(Q)，它将使得您测量和制造复杂光学元件的能力得到进一步提升。

       ASI(Q)采用了QED的干涉仪QIS (QED Interferometer for Stitching)。

该干涉仪针对拼接应用专门进行了优化，使得用户可以在更高条纹密度、更短曲率半径的光学元件上获取高质量的数据，同时具有更高的分辨率和更小的误差。在此之前，没有一种商用测量系统可以测量大偏离量的非球面。

欢迎您光临展位9J44，以获取ASI(Q)以及其他产品的更详细的信息。如需预约，请联系QED中国区代理江华明博士（电邮：hjiang@vip.163。com）

QED是子孔径拼接干涉测量设备（SSI）和磁流变抛光设备（MRF）的唯一供应商。

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