(华强电子世界网讯)美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）推出NI PCI-5124，这是倍受欢迎的基于PXI的12位、200 MS/s数字化仪的基于PCI接口的产品。NI PXI-5124 和NI PCI-5124这两款数字化仪使用了最新技术，在两个150 MHz带宽的输入信道中进行同步采样，可达到高达75 dBc的SFDR（spurious-free dynamic range）。这两款设备均基于NI同步和存储核心（Synchronization and Memory Core，SMC）构架，具备每通道512 MB板载内存、快速数据传输和紧密的同步功能。设计和测试领域的工程师们可以在几十皮秒内同步基于SMC的模块化仪器，用于高通道和混合信号应用。
    
      NI 5124数字化仪在高采样率情况下具有极高的分辨率，因此它可以成为消费电子、军工、航空、半导体和医疗设备等一系列测量应用的理想之选。这些设备还具备以下附加特性，例如：由软件选择的50 Ω 和 1 MΩ输入阻抗、用于重复信号的4 GS/s随机隔行扫描采样（random interleaved sampling ，RIS），以及包含视频触发的5个触发模式。
    
      测试和设计领域的工程师们可以在产品开发的整个流程（从研发设计到验证和生产）中，用NI的数字化仪快速开发测量系统，并使用NI的LabVIEW、TestStand或SignalExpress等软件所支持的快速开发技术。此外，具有32、 256或512 MB内存选择的 NI频谱测量工具包（NI Spectral Measurements Toolkit）提供了优良的频域测量功能，例如在NI LabVIEW 和LabWindows/CVI软件中，可以进行功率频谱、峰值功率和频率、内置功率、相邻通道功率，以及3D光谱图等的测量。