（华强电子世界网讯）日前，德州仪器 (TI) 宣布面向超低功耗 MSP430 微控制器 (MCU) 推出通用串行总线 (USB) JTAG 调试接口 (MSP-FET430UIF) 以及 USB Development快闪仿真工具(FET) (MSP-FET430Uxx)，从而进一步提高了代码开发、评估与编程的灵活性。Development FET 使用户能够直接连接到 USB 端口，而不用再与并行端口相连接（某些新型个人计算机 (PC) 不具备并行端口），同时，通过 PC USB 端口，调试接口可与现有并行端口 MSP430 FET 配合使用以进行编程与调试。
    
     开发人员可使用与 MSP430 目标插板连接的调试接口或已包括了目标插板的Development FET 作为完整工具进行开发、评估与编程。两套工具均采用标准 14引脚 JTAG 连接器与 MSP430 器件进行通信。
    
     通过将 MSP430 快闪器件直接连接至 PC 的 USB 端口，USB JTAG 调试接口极大简化了设置以便于开发人员使用。该接口包括 KickStart 集成开发环境 (IDE) ，其可提供汇编程序、链接程序、仿真程序、源代码级调试程序和有限的 C 编译程序。其它特性还包括软件可配置电压（当电流为 100mA 时，电压介于 1.8 与 3.6 伏之间），以及可提供额外保护的 JTAG 保险丝，并可与现有 FET 及 JTAG 插板进行向后兼容。此外，JTAG 接口还配备了 USB 线缆与 14 导体目标线缆，以及光盘版的完整文档。该款新型 USB FET 能够与运行于 Win2000 与 WinXP 环境下的 USB 1.0 与 USB 2.0 兼容。
    
     新型 USB Development FET 不仅包括 USB 调试接口的所有功能，而且还可提供 MSP430 目标插板。