(华强电子世界网讯)安捷伦科技最新推出一款采用重新设计、功能大大增强的全光参数分析仪，为测试和检验关键光器件提供了全内置解决方案，如10Gb/s器件和40Gb/s DWDM器件。通过把提供测试结果的速度提高10倍，新型解决方案可以帮助光网络器件工程师和制造商明显降低开发和生产成本。
    
     增强后的安捷伦81910A全光参数分析仪在业内率先把全光参数器件测试的速度和精度结合在一起。它可以以实时速度更新色散测量轨迹，实现在线进程控制和调节。该仪器可以与安捷伦81600B全频带激光器一起使用，可以在1475nm到1620nm这一无可比拟的范围内的任何地方，执行全参数测量。安捷伦81600B全频带激光器在目前上市的可调谐光源中，提供了最宽的调谐范围。
    
     81910A还可以直接访问Jones矩阵数据，帮助推进下一代光器件设计，为进行详尽的器件分析提供了不可缺少的基础。新软件可以满足日益变化的需求，可以执行无限的端口测试，这对涵盖范围广泛的器件至关重要，如耦合器、光纤布拉格光栅、薄膜滤波器和阵列波导光栅，进而提高了测试设备的投资回报率。
    
     安捷伦81910A测试所有光器件参数，如频谱和偏振相关损耗、群时延和差分群时延。这些性能参数一直是优化高速窄间隔DWDM传输系统的主要因素。与基于电子调制的信号的传统方法相比，安捷伦81910A采用全光方法，在传输和反射中同时实现全参数测量。与在单独的单一参数测试仪器上执行测量相比，它只需一次性连接到被测器件，最大限度地降低了测试不确定性和器件处理时间。新软件增强了一系列测试算法，包括把群时延转换成色散，把差分群时延转换成偏振模色散。新的应用编程接口(API)可以远程控制仪器，平滑集成到制造环境中，支持简便地实现先进的测量解决方案。