（华强电子世界网讯)8月4日北京消息 安捷伦科技公司今天针对射频网络分析仪推出了业内前所未有的混频器测量功能。使用安捷伦射频网络分析仪的Agilent E5070B/71B-008 ENA射频频率偏移模式（FOM）选件，即使在没有外部电脑提供精确的混频器测量支持的情况下，这款独立运行的仪器亦可提供出色的矢量和标量混频器校准功能。FOM具有两项新型的混频器校准技术，使研发和制造工程师们能够更精确地描述频率转换设备（如：射频混频器和转换器）的特性，进而提高产品的质量和性能。
    
     安捷伦公司射频和微波通讯业务部总经理兼副总裁Pat Byrne称：“用于ENA射频网络分析仪的频率偏移模式选件提供了市场上最全面的校准技术，它把最先进的矢量和标量校准测量功能集合到一款解决方案中，为我们的客户提供全了新的高精度测量功能，使他们可以轻松满足当前通信元件越来越高的要求。”
    
     除了提供偏频扫描、外部信号源控制和固定的中频/射频测量性能以外，带有FOM选件的ENA是目前唯一一款允许工程师进行非线性测量的射频产品。其特性包括：
    
     矢量混频器校准，使射频工程师们首次实现了最精确的绝对群延时测量（用于验证射频元件的相位线性能力）。
    
     标量混频器校准（另一项业内第一的功能），通过自动矫正因被测设备的输入和输出端口不配套而导致的误差，为射频工程师们提供最精确的变频损耗测量。
    
     “避免杂散”功能可帮助工程师避免杂散信号，在不使用外部滤波器的情况下，通过排除来自射频和本机振荡器信号的谐波，简化混频器测量。
    
     同时，FOM选件也提供了谐波测量功能，与使用频谱分析仪和信号源的测量相比，速度更快，精度更高。谐波测量用于设备（包括半导体开关、放大器和前端模块）的非线性评估。
    
     欲了解有关安捷伦网络分析仪和E5070B/71B-008 FOM选件的更多信息，可访问www.agilent。com/find/ena。查看高分辨率图像，可访问www.agilent。com/find/enafom_images。