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科利登推出消费类芯片量产测试解决方案

来源:http://news.hqew.com/info-115334.html 发布时间:2005-07-26

摘要: (华强电子世界网讯)科利登系统公司日前宣布推出Sapphire系列的新成员——Sapphire D-10。该系统是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案,特别为微控制器、无线基带、显示驱动和消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。优化...

    (华强电子世界网讯)科利登系统公司日前宣布推出Sapphire系列的新成员——Sapphire D-10。该系统是一款创新、高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案,特别为微控制器、无线基带、显示驱动和消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而设计。优化的Sapphire D-10同时还能进行200Mbps的圆片测试,提供很高的并行能力。
    
     由于采用公司的专利技术,Sapphire D-10体积小巧,使用风冷散热,其测试能力比科利登原有的Quartet系统还能提升一倍。Sapphire D-10的模块化与灵活性能支持最大768数字管脚以及完备的高密度模拟及混合信号仪器,成本只有竞争机型的一半。
    
     科利登总裁兼首席执行官Dave Ranhoff说:“Sapphire D-10把我们原有产品组合最好的优势和功能进一步提升,在圆片及封装测试时为客户提供明显的低成本优势。我们这款产品能够真正满足客户的要求——多功能、低成本、紧凑地集成了一批高产能的仪器,以适应极其价格敏感化的市场需求。专门为降低芯片测试成本而设计,Sapphire D-10使用革新的技术和测试经济化,在原有Sapphire平台上,进一步扩展了应用空间。”
    

(编辑 Andrew)

    
    
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