（华强电子世界网讯）美国国家有限公司（National Instruments，简称NI）宣布推出2款最新的采样率为200 MS/s的模块化仪器，将混合信号测试的性能提升至一个全新的高度。这2种全新的模块是基于NI的同步和存储核心（Synchronization and Memory Core，简称SMC）架构成功开发的，使得NI数字化仪和任意波形发生器系列产品的采样率和板载存储容量获得双倍提高。结合了NI高精密DC、RF和高速数字PXI仪器，这2款模块是一系列应用，例如消费电子、半导体、军事/航空和科研的理想之选。
    
     NI PXI-5124 12位、双通道数字化仪和NI PXI-5422 16位任意波形发生器使用最新的商业半导体技术，扩展了SMC构架，将采样率提高至200 MS/s，并将存储量扩大至每通道512 MB。这两个模块提供了前所未有的的精度、灵活性，以及与混合信号I/O之间的紧密集成，使得NI模块化硬件产品可以广泛地应用于多个领域。PXI-5124数字化仪提供75 dBc非寄生动态范围（spurious-free dynamic range，简称SFDR）和150 MHz带宽， 同时，PXI-5422任意波形发生器提供小于6%脉冲失真，以及1.8纳秒的上升时间。
    
     设计和测试工程师可以在最新的NI SignalExpress交互式测量软件、LabVIEW 7.1 图形化开发环境和 NI TestStand测试执行管理软件的平台上，使用全新的200MS/s数字化仪和任意波形发生器快速开发激励/响应应用。随着Express技术在上述软件平台中的应用，工程师们几乎无需编程，即可交互地配置数字化仪和任意波形发生器，使系统设置时间大大缩短。得益于LabVIEW 7.1中的400余个频谱测量和模拟、数字调制函数，自定义测量系统就会变得更轻松更方便。
    
     NI所有的混合信号模块化仪器都是基于SMC构架成功研发的，所以它们可以和基于SMC的仪器（例如NI PXI-6552 100 MHz数字波形发生器/分析仪等）实现紧密同步。鉴于模块至模块间的抖动小于20皮(可)秒，SMC的同步功能就能使高性能混合信号或高通道测量系统成为可能。此外，这两块全新的模块能通过前面板连接器或PXI触发总线，导入外部采样时钟、参考时钟和触发。