安捷伦Medalist i3070为高度复杂的高速印刷电路板组件提供了
业内最先进、最灵活的在线测试系统

安捷伦科技公司(NYSE: A)日前宣布，为印刷电路板组件推出安捷伦Medalist i3070在线测试系统。对世界各地的电子器件制造商来说，这一系统提供了最快速、最简便的方式，把在线测试的处理能力带入生产线中。

新系统采用高级算法，与传统的安捷伦Medalist 3070系统相比，把模拟测试吞吐量提高了50%。简单的图形用户界面采用专门设计，为快速发展的大批量制造环境中的操作人员提供了最大的简便易用性。

安捷伦Medalist i3070还包括业内率先提供的另一种技术：VTEP v2.0非向量测试技术，它采用新的NPM测量技术，主要用来检测连接器电源针脚和接地针脚上的缺陷。安捷伦今天还推出了VTEP v2.0技术，如需与VTEP v2.0有关的更多信息，请参阅：www.agilent。com/about/newsroom/presrel/2007/20feb-em07015。html。

电源针脚和接地针脚一直被视为非向量测试所无法覆盖的，因为电源针脚或接地针脚在设计上短路在一起，市场上目前提供的任何非向量测试解决方案几乎都检测不到此类针脚开路。安捷伦VTEP v2.0为克服这种测试局限性提供了创新解决方案。

“Medalist i3070使得广大客户能够更迅速地开发和调试程序。”安捷伦测量系统分部ICT市场经理NK Chari说，“在VTEP v2.0中，我们还极大地提高了测试速度，实现了前所未有的覆盖率。我们提供了最灵活和业内领先的在线测试平台，帮助客户缩短产品开发周期，降低成本，保护投资。”

通过简单的软件升级，现有Medalist ICT系统可以同时实现Medalist i3070和VTEP v2.0新功能。此外，为进一步保护现有安捷伦Medalist 3070和i5000用户的投资，新推出的Medalist i3070可以有效兼容传统安捷伦ICT系统，因此最终用户可以轻松地在不同系统中实现相同配置。