NI 国家仪器身为平台式系统供应商，可协助工程师与科学家解决全球最艰鉅的工程挑战，推出 NI PXIe-4135 电源量测单元 (SMU) 提供 10 fA 的量测灵敏度与高达 200 V 的电压输出。透过 NI PXI SMU 的灵活弹性、高通道数密度、绝佳的测试输出率，工程师可使用 NI PXIe-4135 SMU 量测低电流讯号，并执行晶圆参数测试、材料研究、低电流感测器与 IC 的特性测试等多种应用。

  「我们的行内参数测试必须撷取数百万个资料点，过程中常会产生数微微安培的洩漏电流，」IMEC 研究员 Bart De Wachter 博士如此表示。 「新款 NI PXI SMU 可準确量测这些低电流讯号，并同时享有 PXI 平台的快速除错与 LabVIEW 提供的系统设计弹性。」

  工程师可透过模组化 NI PXI SMU 打造体积精巧、平行的多通道数系统，并享有多达 68 个 SMU 通道的单一 PXI 机箱，能够针对数百个通道执行晶圆稳定性测试与平行测试。 此外，使用者可善用高速通讯匯流排、精确的硬体序列与数位控制迴路技术，藉此提高测试输出率并客制微调任何待测装置的 SMU 响应。 使用者也可以运用软体控制 SMU 响应，不仅可缩短 SMU 趋稳作业漫长的等待时间，还能藉由软体的弹性减少过衝与震盪，即使是高电容负载也一样。

  「半导体装置越来越复杂，我们必须重新思考传统的研究方法、特性测试与稳定度量测，这也正是我们投资 SMU PXI 的主要塬因。」NI 自动化测试总监 Luke Schreier 如此表示。 「NI SMU 不仅可降低测试时间、增加通道密度，现在还能提供 10 fA 灵敏度、更优良的量测品质。」

  NI PXI SMU 使用互动式软体人机介面执行基本量测并为自动化应用除错，其操作的简易程度是箱型 SMU 无法达成的。 此驱动程式提供辅助档案、文件与立即可用的範例程式，藉以协助测试程式码的开发，另外还提供程式设计介面，可搭配 C、Microsoft .NET 与 LabVIEW 系统设计软体等多种开发环境。 工程师也可使用 NI PXI SMU 搭配 NI TestStand 测试管理软体，藉此简化测试系统在实验室与生产线上的建置与佈署。