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半导体测试设备领导厂商爱德万测试推出RND440 Type 3治具装置,作为强化T6391 LCD驱动IC(DDI)测试机台的选择配备,具备大规模平行测试新世代智慧型手机面板所用薄膜覆晶封装(Cof)晶片的能力。此治具装置专为因应不断成长的DDI接脚数目、持续增加的介面速度,以及高解析度所需的高度...
HIOKI推出世界首款可高精度4端子测量0402尺寸SMD的测试治具IM9100。随着智能手机的普及,电路板表面安装的元器件(SMD)越来越小,而IM9100就是能满足今后将成为主流测量的0402尺寸(0.4mm×0.2mm) 的SMD测量的产品。而且,由于是4端子结构,因此也能准确测量低电阻的S...
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