半导体测试设备领导厂商爱德万测试推出RND440 Type 3治具装置，作为强化T6391 LCD驱动IC(DDI)测试机台的选择配备，具备大规模平行测试新世代智慧型手机面板所用薄膜覆晶封装(Cof)晶片的能力。此治具装置专为因应不断成长的DDI接脚数目、持续增加的介面速度，以及高解析度所需的高度...

半导体测试设备领导供应商爱德万测试为Wave Scale MX产品系列增添生力军，推出高解析度、高精确度的混合讯号通道卡，扩大该系列于测试类比数位与数位类比波形转换器的範畴。全新高解析度Wave Scale MX卡具备业界最高平行测试能力与最佳交流与直流效能。藉由这些特性，爱德万测试V93000测...

半导体测试设备领导厂商爱德万测试宣布推出MPT3000HVM系统，只要透过此单一平台即可测试採SATA、SAS和PCIe等不同协定的固态硬碟(SSD)，无论是讲求高效能的企业级SSD还是最具成本效益的客户型SSD，都涵盖在适用範围内。MPT3000HVM之所以能成就如此优异的生产测试解决方案，归功...

半导体测试设备厂爱德万测试(Advantest)宣布已经进入最后的协议阶段，将以1.85亿美金的金额，外加依据特殊业绩表现最高达3000万美金的绩效奖金，自Astronics Corporation购买其商用半导体系统测试事业部，此事业部为半导体产品及模组提供系统级测试。

半导体测试领导厂商爱德万测试将在8月9日至11日，于加州圣克拉拉第11届年度快闪记忆体高峰会(Flash Memory Summit)上，展示两款用于测试晶片、模组与系统等级先进储存装置的多协定系统。爱德万测试为本届峰会翡翠级赞助商。在此次高峰会期间，爱德万测试将于圣克拉拉会议中心B展馆(摊位号码...

爱德万测试(Advantest)推出 T2000 平台最新多功能参数量测仪(PMU)模组 T2000 PMU32E ，提供高于现有模组两倍的解析度与精准度，进一步提升数位、类比与电源管理系统单晶片(SoC)元件的测试效能。全新模组 PMU32E 具备高密度32通道，可与爱德万测试原有 PMU32 ...

半导体测试设备领导供应商爱德万测试(Advantest;TSE: 6857)发布最新HF-AWGD(高频任意波形产生器与示波器)模组，进一步扩充EVA100测量平台的功能，将高解析、高速类比装置的测试也纳入其中。有了新模组加持，EVA100系统得以测量混合讯号、精密与标準类比半导体的所有关键参数。...

测试设备大厂爱德万测试(Advantest)宣布，获市场分析机构VLSIresearch 2014十大最佳供应商，连续26年获此殊荣。爱德万测试表示，此次调查对象涵盖全球95%半导体厂商，包括整合元件制造厂(IDM)、IC设计公司、晶圆封测代工厂在内。爱德万测试指出，此次调查结果显示，爱德万测试不...

爱德万测试日前推出全新T2000 8GWGD测试设备，提供结合每秒採样速率达8千兆(Gsps)的波形產生器和8 GHz数位器之模组，可应用於HDD硬碟等巨量储存装置中的系统单晶片(SoC)测试。 &nb...