摘要: 英飞凌CoolSiC MOSFET建立在最先进的沟槽半导体工艺之上,该工艺经过优化,可实现最低的应用损耗和最高的运行可靠性。
英飞凌CoolSiC MOSFET建立在最先进的沟槽半导体工艺之上,该工艺经过优化,可实现最低的应用损耗和最高的运行可靠性。TO和SMD外壳中的分立式CoolSiC产品组合具有650V,1200V和1700V电压等级,导通电阻范围为27mΩ至1000mΩ。CoolSiC沟槽技术可实现灵活的参数设置,该参数集用于在各个产品组合中实现特定于应用程序的功能。这些功能包括栅极-源极电压,雪崩规格,短路能力或额定用于硬换向的内部二极管。
采用分立封装的Infineon CoolSiC MOSFET非常适合硬开关和谐振开关拓扑,例如功率因数校正(PFC)电路,双向拓扑以及DC-DC转换器或DC-AC逆变器。即使在桥拓扑中的关断电压为零伏时,出色的抗寄生干扰效应也可在低动态损耗方面树立标杆。Infineon TO和SMD产品带有开尔文(Kelvin)源引脚,可优化开关性能。
英飞凌通过一系列满足特定超快SiC MOSFET开关功能需求的驱动器IC产品,完善了SiC分立产品。CoolSiC MOSFET和EiceDRIVER栅极驱动器IC一起利用了SiC技术的优势:提高了效率,节省了空间和重量,减少了零件数量,并增强了系统可靠性。
?出色的栅极氧化物可靠性
?稳定,坚固的体二极管?出色的
硬开关拓扑结构(例如伺服驱动器)
?开关速度最快时开关损耗最低
?强大的抗寄生导通效应使其设计简单
?短路额定值为3μs
?Excel具有软开关拓扑结构,例如EV充电
?开关损耗最低,易于设计
?可以采用0V关断功能
?太阳能应用中的CoolSiC MOSFET
?在相同逆变器重量下将逆变器功率加倍?
与基于Si的替代品相比,在高工作温度下效率降低明显更少
?功率密度提高了2.5倍
?显示出最大效率超过99%
?储能系统中的CoolSiC MOSFET
?减少多达50%的损耗
?在不增加电池尺寸的情况下将能源最多增加2%
?服务器和电信电源中的CoolSiC?MOSFET
?减少多达30的损耗%
?达到的密度翻倍
? EV充电中的CoolSiC MOSFET
?
减少一半的充电时间?减少50%的组件数量却提高了效率
?由于效率更高而降低了拥有成本
?减少了冷却工作
xEV应用
?主逆变器的好处
?电池利用率提高了5-10%
?增加了功率密度,系统尺寸减小了80%
?与Si-IGBT相比,在轻载条件下降低了传导损耗
?板载充电器的好处
?可以实现较小的双向三相充电器
?通过更快的开关速度帮助缩小无源组件的尺寸
?在PFC和DC-DC阶段提高效率高达1%
? HV DC-DC转换器的优势
?提供更高的开关频率
?增强功率密度
?提高集成度
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