ON Semiconductor STR-NCP171-EVK Strata assessment Kit的介绍、特性、及应用
摘要:
采用ON Semiconductor STR-NCP171-EVK Strata assessment Kit对NCP171系列80mA双模XDFN4封装LDOs进行评估。ldo的输出电压范围为0.6V ~ 3.3V。NCP171在低功耗模...
采用ON Semiconductor STR-NCP171-EVK Strata assessment Kit对NCP171系列80mA双模XDFN4封装LDOs进行评估。ldo的输出电压范围为0.6V ~ 3.3V。NCP171在低功耗模式下可以实现低至50nA的静态电流。输出电压可按内部程控值50mV、100mV、150mV、200mV降低。超低的静态电流和双模式能力使该LDO为电池供电或低功耗应用进行了优化。该评估工具可与地层环境GUI一起使用。它可以启用/禁用LDO,在有源模式和低功率模式之间切换。该设备还可以监测平台上的其他遥测数据,包括输入/输出电压、耗散功率和温度。
特性
- 提供了NCP171系列80mA双模XDFN4封装LDOs的评估套件,固定输出电压范围为0.6V至3.3V
- 在低功耗模式下,NCP171可以实现低至50nA的静态电流
- 输出电压可按内部程控值50mV、100mV、150mV、200mV降低
- 超低静态电流和双模式能力使该LDO优化电池供电或低功耗应用
- 该套件可以与Strata环境GUI一起使用
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