摘要: 本应用笔记描述低频振荡器设计和晶体选择如何影响工作电流。当从有限容量的电源运行振荡器时,例如锂硬币电池或超级电容器,最小化工作电流会增加工作时间。
Maxim拥有大量低功耗、电池支持的实时时钟(rtc)。Maxim设计RTC时主要考虑的是当RTC从备用电源运行时,最小化振荡器的功率需求,从而最大化备用电源的寿命。晶体振荡器提供了合理的精度,并且多年来的开发工作一直集中在最小化功耗上。
振荡器的设计目标包括:
提供足够的电流和增益来启动和维持振荡
提供宽的工作电压范围
尽量减少外部噪声对精度的影响
图1给出了晶体谐振器的等效电路。一个晶体有两个零相位频率,如图2所示。较低的频率为串联谐振频率。在串联谐振频率处,L1和C1相互抵消,阻抗由R1决定。(1)第二个较高的频率为并联谐振频率。在并联谐振时,电阻最大。
并联谐振振荡器电路(图3)使用设计为在特定负载电容下工作的晶体。这导致电路在串联谐振点和并联谐振点之间的频率上工作。负载电容的变化引起振荡器频率的变化。
晶体等效串联电阻(ESR)在经过SMT再流后趋于上移,因此与通孔封装晶体相似的SMT晶体可能具有更高的最大ESR规格。同样,较小的音叉晶体通常比较大的晶体具有更高的ESR规格。
图1所示、晶体谐振器的等效电路
图2、晶体相位和阻抗响应
图3、穿孔式(逆变器变化)振荡器电路
正如Eric Vittoz所观察到的,当晶体振荡器电路中的两个负载电容(图3)的值相等时,振荡(或临界跨导)的最小电流可以用下面的公式近似表示。
g(mcrit)≈4欧姆(2) × C(L)(2) × R(ESR)
式中,欧姆为以r为单位的频率,C(L)为等效容性负载,r (ESR)为晶体的ESR。假设振荡器是工作在弱反转的CMOS器件。
Vittoz还确定振荡器振幅和偏置电流由下式相关:
在哪里
I(B0)和I(B1)是零阶和一阶修正贝塞尔函数。
因此,我们可以展示给定振荡器电压下振荡器电流与不同ESR和C(L)值之间的关系,如下面的例子所示。设V(1) = 400mV(P-P), nU(T) = 26mV, ESR = 35k欧姆, C(L) = 6pF,则
≈4,且
I(O)≈4欧姆(2) × C(L)(2) × R(ESR) × nU(T) × 4
≈4×(32768×6.283)(2)×(6 e-12)(2)×35 e + 3×0.026×4
≈22.2 na。
表1显示了C(L)和ESR对振荡器电流的关系,使用上面的V(1)和nU(T)的值。
ESR(欧姆) | C (L) (pF) | 我(O) (nA) |
35000年 | 6 | 22.2 |
70000年 | 6 | 44.4 |
35000年 | 12.5 | 88.9 |
70000年 | 12.5 | 177.8 |
由于在g(mcrit)的方程中,C(L)项是平方的,因此负载电容加倍会使振荡器电流增加四倍。将晶体ESR增加两倍会导致所需的振荡器电流增加一倍。请注意,这是振荡器电流的最小估计值,其中不包括用于放大振荡器输出的额外电路消耗的电流,也不包括用于将频率划分为1Hz的设备中的电流。
振荡器的设计应使其在整个工作温度和电压范围内具有足够的增益。在工作条件下,振幅必须始终足以驱动后续增益和缓冲级。为了最小化振荡器电流要求,对于给定的振荡电压,需要一个低的C(L)。然而,较低的C(L)将增加振荡器对外部噪声影响的敏感性。低C(L)晶体的可用性差可能使选择具有更高C(L)的晶体成为必要,代价是增加振荡器电流。同样,如果设计需要一个小的晶体封装,则需要一个驱动高ESR晶体的振荡器设计,从而增加必要的振荡器电流。
此外,用于增加理想功能的电路,例如用于提高振荡器噪声抗扰性的故障滤波器,或用于检测振荡器何时停止的电路,将增加电路的总电流消耗。
在为低功率RTC设计振荡器时,需要考虑许多权衡。增加C(L)将增加噪声抗扰度,并可能提供更多的晶体模型可供选择,但代价是振荡器电流。同样,设计一个振荡器,使其能够在相对较高的ESR晶体中运行,需要更高的振荡器电流。添加故障滤波器或振荡器停止检测电路也增加了有益的功能,但需要额外的电流。
(1) Ecliptek Corporation,“晶体术语表”,www.ecliptek.com。
(2) Eric A. Vittoz,“高性能晶体振荡器电路:理论与应用”,《IEEE固态电路杂志》,第23卷,第3期(1988年6月)。
(3)参见DS1337、DS1338、DS1339、DS1340、DS1341、DS1388、DS1390/91/92/93和DS1318数据表中的振荡器停止标志(OSF)位描述。
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