摘要: 本应用说明列出了DS31256 HDLC控制器中的内部测试寄存器,并解释了用户应避免使用这些寄存器的原因。
DS31256 HDLC控制器有一些寄存器仅供内部测试使用(见表1)。用户应避免使用它们。
地址(h) | 值(h) |
0050(测试登记册) | 0000 |
04F0到04FF | 0000 |
07FD到07FF | 0000 |
08FD到08FF | 0000 |
09F8至09FF | 0000 |
DS31256中的所有测试寄存器都是16位,并通过硬件或软件复位设置为0。数据表中只显示了地址为0050的测试寄存器的描述。所有其他测试寄存器都是隐藏寄存器,仅用于内部测试(未在数据表中显示)。
抵消/地址 | 首字母缩写 | 注册的名字 | 数据表部分 |
0050 | 测试 | 测试注册 | 5.4 |
测试寄存器位0被工厂测试(FT)模式用来将DS31256置于测试模式。对于正常的设备操作,当这个寄存器被写入时,这个位应该被设置为0。设置此位将使ram进入低功耗待机模式。
比特1到15仅用于内部(达拉斯半导体)测试使用,而不是用户测试模式控制。这些位的值应该总是0。如果这些位中的任何一个被设置为1,则设备不能正常工作。
有关DS31256的更多信息,请参阅数据表。
本应用说明列出了DS31256的内部测试寄存器,并解释了为什么用户应该避免使用这些寄存器。
如果您对我们的HDLC控制器产品有进一步的疑问,请联系电信应用支持团队。
社群二维码
关注“华强商城“微信公众号
Copyright 2010-2023 hqbuy.com,Inc.All right reserved. 服务热线:400-830-6691 粤ICP备05106676号 经营许可证:粤B2-20210308